frida超低頻測(cè)試診斷儀簡(jiǎn)介：
•BAUR 的便攜式儀器 frida 和 frida TD 用于：
測(cè)試中壓電纜和電氣設(shè)備（發(fā)電機(jī)、 變壓器和開關(guān)設(shè)備測(cè)試）
電纜護(hù)套測(cè)試
電纜診斷 (frida TD)：
介損測(cè)量和帶 tan δ 的監(jiān)控耐壓測(cè)試
局部放電測(cè)量*
帶 tan-δ 和局部放電測(cè)量的*監(jiān)控耐壓測(cè)試
•frida通過(guò) VLF 測(cè)試可以在*短的測(cè)試時(shí)間內(nèi)發(fā)現(xiàn)塑料和油浸紙絕緣電纜中的絕緣層損傷 ，并且不會(huì)對(duì)周圍的絕緣材料造成不利影響
•frida采用 0.1 Hz VLF-truesinus® 的損耗因數(shù)診斷會(huì)為油浸紙電纜和 PE/XLPE 電纜給出差異化的結(jié)論。 處理 PE/XLPE 電纜時(shí) ，介損測(cè)量會(huì)區(qū)分出新電纜、 受“水樹”損傷較輕和較嚴(yán)重的電纜。 這樣*可以確定電纜的更換緊迫程度
•frida帶 tan delta 的監(jiān)控耐壓測(cè)試結(jié)合了電纜耐壓測(cè)試和介損測(cè)量，能夠?qū)﹄娎|狀態(tài)進(jìn)行精確又全面的判斷。 此外，通過(guò)優(yōu)化測(cè)試時(shí)間可對(duì)電纜的破壞降到*低水平


frida電纜狀態(tài)評(píng)估的新方法
•一臺(tái)儀器完成電纜耐壓測(cè)試和介損診斷
•測(cè)試簡(jiǎn)單快捷
•自動(dòng)化的測(cè)試及診斷流程
•結(jié)構(gòu)精巧、 重量輕


frida超低頻測(cè)試診斷儀特點(diǎn)：
•*高測(cè)試電壓 24 kV rms  / 34 kV peak
•電壓波形：VLF-truesinus ® ， VLF-方波電壓和直流電壓
•VLF- truesinus ® 測(cè)試技術(shù)確保提供與負(fù)載無(wú)關(guān)重復(fù)性好的正弦波高壓
•電纜測(cè)試符合：DIN VDE 0276-620/621(CENELEC HD 620/621), IEEE 400-2012, IEEE 400.2-2013, IEC 60060-3
•電纜護(hù)套檢測(cè)符合 IEC 60502/IEC 60229 標(biāo)準(zhǔn)
•電氣設(shè)備電壓測(cè)試符合 IEEE 433 標(biāo)準(zhǔn)frida TD
•*高采用 20 kV 對(duì)電氣設(shè)備和中壓電纜進(jìn)行損耗因數(shù)診斷
介損測(cè)量，精確度可達(dá) 1 x 10 -4
•通過(guò) VSE-Box（選項(xiàng)）檢測(cè)泄漏電流
•結(jié)合 PD-TaD 60 通過(guò)*監(jiān)控耐壓測(cè)試更全面了解電纜狀態(tài)
Full MWT = VLF 電纜耐壓測(cè)試和同步的介損和局部放電測(cè)量
可用的方法和組合方法參閱第 2 頁(yè)
•全自動(dòng)并可進(jìn)行個(gè)性化編輯的診斷流程（ 包括評(píng)估）


frida VLF測(cè)試診斷儀一般信息
•通過(guò) USB 接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通訊
•電腦軟件管理測(cè)試數(shù)據(jù)
•自動(dòng)放電檢測(cè)裝置
•可通過(guò)選項(xiàng)擴(kuò)展
frida： 擴(kuò)展成為局部放電診斷系統(tǒng)
frida TD： 擴(kuò)展成為局部放電和Full MWT 診斷系統(tǒng)


Full 監(jiān)控耐壓測(cè)試
•更具說(shuō)服力的組合方法
使用 BAUR VLF 測(cè)試診斷儀 frida TD 時(shí) ，您可以結(jié)合便攜式局部放電診斷系統(tǒng) PD-TaD 60， 在進(jìn)行 VLF 電纜測(cè)試的同時(shí)*完成介質(zhì)損耗的測(cè)量并檢查電纜線路的局部放電情況。 這種組合方法稱為 Full MWT ，相比單*的電纜耐壓測(cè)試， 它可以明顯提供更多的信息。 通過(guò)電纜測(cè)試可以看出電纜設(shè)備能否在特定的測(cè)試耗時(shí)內(nèi)承受負(fù)載， 而介損測(cè)量則可以對(duì)電纜絕緣層進(jìn)行狀態(tài)評(píng)估 ，并能借助局部放電測(cè)量識(shí)別并準(zhǔn)確定位局部放電故障部位。 MWT *大的亮點(diǎn)在于以狀態(tài)為導(dǎo)向的測(cè)試時(shí)間 ：條件允許時(shí) ， 可以縮短測(cè)試時(shí)間 ，這可以降低成本。 這樣電纜*只需要在必要的時(shí)間內(nèi)承受較高的測(cè)試電壓。


VLF-truesinus ® - 一種適用于各種方法和組合方法的電壓波形
VLF-truesinus ® 是*一種既能可靠地進(jìn)行電壓測(cè)試又能精確進(jìn)行介損和局部放電測(cè)量的電壓波形。 相對(duì)于其他電壓波形 ， VLF-tru-esinus ® 電壓與負(fù)載無(wú)關(guān)、 對(duì)稱且連續(xù)。 這是確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確并且具有可重復(fù)性和可比性的前提條件。